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09
2026
-
06
超薄薄膜(Ultra-thin Film)制备工艺异常的微观...
超薄薄膜(Ultra-thin Film)是光电显示、半导体芯片、光伏组件等高端制造领域的核心功能性材料,其镀膜(Coating)、溅射(Sputtering)、...
超薄薄膜(Ultra-thin Film)制备工艺异常的微观特征识别 —— 白光干涉仪(White Light Interferometer, WLI)测量技术探析
09
2026
-
06
BGA 锡球共面度标准化检测方案,详解光学 3D 轮廓仪工业...
光学3D轮廓仪依托非接触式三维扫描原理,适配IPC-7351、JEDEC行业标准,可高速采集BGA锡球全域3D形貌点云数据,自动拟合基准平面,精准计算单球高度差、...
BGA 锡球共面度标准化检测方案,详解光学 3D 轮廓仪工业场景实际应用
08
2026
-
06
白光干涉仪(White Light Interferomet...
超薄薄膜(Ultra-thin Film)是光电传感、精密光学镀膜、半导体微电子领域的核心功能材料。薄膜制备常用的磁控溅射(Magnetron Sputterin...
白光干涉仪(White Light Interferometer, WLI)高精度表征下超薄薄膜(Ultra-thin Film)表面瑕疵与工艺误差关联性研究
08
2026
-
06
超临界 CO₂设备密封平面度工艺质控及光学轮廓测量技术应用
超临界二氧化碳(Supercritical CO₂, scCO₂)设备长期服役于高温高压严苛工况,密封端面平面度(Sealing Flatness)是保障设备气密...
超临界 CO₂设备密封平面度工艺质控及光学轮廓测量技术应用
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